企业等级: | 普通会员 |
经营模式: | 其他 |
所在地区: | 湖北 武汉 |
联系卖家: | 张经理 先生 |
手机号码: | 13554353674 |
公司官网: | www.dondray.cn |
公司地址: | 武汉市江夏经济开发区阳光大道阳光三路001号 |
CSK-IA试块是由IIW试块的基础上改进而来的主要用途有:
1:利用R100mm曲面测定斜探头的入射点和前沿长度;
2:利用50和1.5mm圆孔测定斜探头的折射角;
3:利用试块直角棱边测定斜探头声束轴线的偏离情况;
4:利用25mm厚度测定探伤仪水平线性、垂直线性和动态范围;
5:利用25mm厚 度调整纵波探测范围和扫描速度;
6:利用R50和R100mm曲面调节横波探测范围和扫描速度;
7:利用50、44和40mm三个台阶孔测定斜探头分辨力。
在进行换算时,需要注意以下事项:
1. 制造标准不同可能导致换算方法不同。不同的制造标准可能对平底孔直径的换算方法有所不同,因此需要了解并遵循相应的制造标准。
2. 误差控制非常重要。在进行换算时,需要注意误差控制,以避免对无损检测结果造成影响。为了降低误差,无损检测试块,需要选择精度高的测量仪器或量具进行测量和校准,同时需要注意操作过程中的规范性和准确性。
3. 需要注意试块的一致性和可追溯性。在进行换算时,需要保证所使用的新试块与原试块具有一致性和可追溯性,以确保无损检测结果的准确性和可靠性。