汉阳无损检测试块-东瑞精密模具(在线咨询)

CSK-IA试块是由IIW试块的基础上改进而来的主要用途有:

1：利用R100mm曲面测定斜探头的入射点和前沿长度;

2：利用50和1.5mm圆孔测定斜探头的折射角;

3：利用试块直角棱边测定斜探头声束轴线的偏离情况;

4：利用25mm厚度测定探伤仪水平线性、垂直线性和动态范围;

5：利用25mm厚 度调整纵波探测范围和扫描速度;

6：利用R50和R100mm曲面调节横波探测范围和扫描速度;

7：利用50、44和40mm三个台阶孔测定斜探头分辨力。

超声波试块就是一个已知尺寸和缺陷位置大小的校正参考物。

比如一个厚度100mm，缺陷距离表面90mm的试块，超声波探头打上去以后所产生的回波应该在探伤仪上的100mm.90mm处有两个回波，如果位置有偏差就说明超声波探头没有校正好。

什么是试块？

试块是超声波探伤的重要设备之一。在脉冲反射法超声波探伤过程中，是通过仪器荧光屏上反射回波的位置、高度、波形的静态和动态特征变量来表征被检材料或工件质量的优劣的。然而，这些变量与缺陷之间的声学关系是十分复杂的，同时还存在着仪器和探头、材料或工件材质、糯合条件等多种影响因素。因此，不能单靠调节仪器上的有关旋钮和简单的计算结果来完成对缺陷的定性、定量和定位等任务。所以，采用将仪器检出变量与已知的简单形状的人工反射体的相应位置的已知信号量进行比较的方法来进行评定。即利用这些人工反射体在荧光屏上的回波为尺度来衡量被检材料或工件缺陷的反射回波，从而评价其质量。我们把这些按照一定用途设计制造的、具有特定形状的人工反射体，称之为试块.