武汉标准试块-武汉东瑞模具(图)

CSK-IA试块是由IIW试块的基础上改进而来的主要用途有:

1：利用R100mm曲面测定斜探头的入射点和前沿长度;

2：利用50和1.5mm圆孔测定斜探头的折射角;

3：利用试块直角棱边测定斜探头声束轴线的偏离情况;

4：利用25mm厚度测定探伤仪水平线性、垂直线性和动态范围;

5：利用25mm厚 度调整纵波探测范围和扫描速度;

6：利用R50和R100mm曲面调节横波探测范围和扫描速度;

7：利用50、44和40mm三个台阶孔测定斜探头分辨力。

无损检测试块在质量的保证过程中起着至关重要的作用。它们用于校准无损检测设备，评估产品的质量和性能，帮助改进产品设计和制造过程，以及进行故障诊断。通过使用无损检测试块，我们可以更好地了解产品的性能和完整性，确保产品的质量符合标准和规格，从而提高了产品的可靠性和安全性。随着技术的不断进步和质量意识的提高，无损检测试块将在未来的工业制造和质量控制中发挥更加重要的作用。

1. 铝合金试块(A型对比试块)

铝合金试块由同一试块剖开后具有相同大小的两部分组成，标准试块，并打上相同的序号，分别标以A、B记号，A、B试块上均应具有细密相对称的裂纹图形。铝合金试块的其他要求应符合JB/T 9213的相关规定。

2. 镀铬试块(B型试块)。

将一块尺寸为130mm×40mm×4mm、材料为0Cr18Ni9Ti或其他不锈钢材料的试块上单面镀铬，用布氏硬度法在其背面施加不同负荷形成3个辐射状裂纹区，按大小顺序排列区位号分别为1、2、3， 其位置、间隔、及其他要求应符合JB/T 6064—1992中B型试块相关规定。裂纹尺寸分别对应JB/T 6064—1992 B型试块上的裂纹区位号2、3、4。