企业等级: | 普通会员 |
经营模式: | 其他 |
所在地区: | 湖北 武汉 |
联系卖家: | 张经理 先生 |
手机号码: | 13554353674 |
公司官网: | www.dondray.cn |
公司地址: | 武汉市江夏经济开发区阳光大道阳光三路001号 |
CSK-IA试块是由IIW试块的基础上改进而来的主要用途有:
1:利用R100mm曲面测定斜探头的入射点和前沿长度;
2:利用50和1.5mm圆孔测定斜探头的折射角;
3:利用试块直角棱边测定斜探头声束轴线的偏离情况;
4:利用25mm厚度测定探伤仪水平线性、垂直线性和动态范围;
5:利用25mm厚 度调整纵波探测范围和扫描速度;
6:利用R50和R100mm曲面调节横波探测范围和扫描速度;
7:利用50、44和40mm三个台阶孔测定斜探头分辨力。
一、试块的尺寸规范
1.不同类型的试块应按照相关标准和规范确定其尺寸。
2.在制作试块时,应严格按照允许误差范围内的标准尺寸进行切割和加工。
3.试块的尺寸应符合质检要求,不应有明显的尺寸偏差和不合格的尺寸现
象。
二、试块的材料规范
1.试块的材料应符合相关产品标准,并通过质检部门]的检验合格。
2.不同类型的试块可能需要使用不同材料,应根据具体要求选用相应的标准
材料。
3.在试块的制作过程中,材料应保持干燥、清洁,杜l绝杂质和水分的污染。